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Einrichtungen & Geräte
Mikroskope
Rasterelektronenmikroskop
Zeiss DSM 960
mit Link EDX-System
Kontakt:
A. Danilewsky
Tel. 203-6450
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Rasterelektronenmikroskop
LEO 1525 Feldemission
mit Oxford/Link
Rückstreuelektronenbeugung EBSD
Kontakt:
A. Danilewsky
Tel. 203-6450
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Lichtmikroskop
Leitz Aristomet
(differentieller Interferenzkontrast
nach Nomarski)
Kontakt:
A. Danilewsky
Tel. 203-6450
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Lichtmikroskop
Zeiss Axio Imager
(differentieller Interferenzkontrast
nach Nomarski)
Kontakt:
A. Danilewsky
Tel. 203-6450
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Infrarot - Mikroskop
Reichert Jung
Kontakt:
A. Danilewsky
Tel. 203-6450
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Röntgen-Anlagen
5-Kristalldiffraktometer
Seifert XRD 3003 PTSHR
Kontakt:
A. Danilewsky
Tel. 203-6450
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| Laue - Goniometer
Kontakt:
A. Danilewsky
Tel. 203-6450
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Pulverdiffraktometer
Stoe STADI-P
Kontakt:
T. Sorgenfrei
Tel. 203-6453
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| Einkristall-Röntgenkameras
Kontakt:
T. Sorgenfrei
Tel. 203-6453
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Öfen
FMF-Ofen
(Float zone furnace with rotating Magnetic
Field)
Kontakt:
A. Hess
Tel. 203-6457
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Spiegelöfen
mit Züchtung im
statischen und dynamischen Magnetfeld
Kontakt:
A. Cröll
Tel. 203-6439
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| Bridgman-Öfen
Kontakt:
M. Fiederle , Tel. 203-4775
T. Sorgenfrei , Tel. 203-6453
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HF Czochralski-Anlage
(Zonenschmelzanlage)
Kontakt:
A. Danilewsky
Tel. 203-6450
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Zweizonen-Öfen
(vertikal und horizontal)
zur Synthese und Züchtung von Gramm-Mengen
Kontakt:
T. Sorgenfrei
Tel. 203-6453
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Weitere Anlagen
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Flüssigphasen- und Flüssigphasenelektroepitaxie-Anlagen
Kontakt:
A. Danilewsky
Tel. 203-6450
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Ortsaufgelöste Photolumineszenz
Kontakt:
A. Danilewsky, Tel. 203-6450
M. Fiederle, Tel. 203-4775
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Thermoanalysengeräte
(DTA, DSC, TG)
Kontakt:
T. Sorgenfrei
Tel. 203-6453
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Spezielle Anlagen
für die Halbleitertechnologie
(z.B. Innenlochsägen)
Kontakt:
A. Danilewsky
Tel. 203-6450
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| Metallbearbeitungsmaschinen
Kontakt:
W. Drayer
Tel. 203-6435
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